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ScopeX G59萬足金展廳/高純金專用檢測儀

專為萬足金和超高純金分析而設計,不僅能快速且無損地分析黃金(Au)含量,而且還能分析雜質(zhì)銀(Ag)和銅(Cu)。銀(Ag)銅(Cu)雜質(zhì)檢測極限≤ 10ppm,滿足從萬足金(AU9999)到十萬足金(AU99999)的分析需求。以0.001%的超高精度分析,成為萬足金展廳和超高純金樣品分析的理想之選。
ScopeX G59萬足金展廳/高純金專用檢測儀

性能優(yōu)勢

超大面積SDD探測器

帶來更優(yōu)異的分辨率和分析靈敏度

一鍵操作

界面友好,清晰直觀顯示結果

檢測精度高

精度可達0.001%(99999金)

工作原理

ScopeX G59萬足金展廳/高純金專用檢測儀的工作原理基于X射線與樣品相互作用產(chǎn)生的熒光X射線。當X射線照射到樣品時,樣品中的原子會被激發(fā),內(nèi)層電子躍遷到高能級,隨后回落時釋放出特征性的熒光X射線。這些熒光X射線的能量與樣品中元素的種類有關,因此通過測量這些X射線的能量,可以確定樣品的元素組成。


分析儀主要包括X射線管(激發(fā)源)、樣品室、探測器和分析軟件。X射線管產(chǎn)生入射X射線激發(fā)樣品,探測器捕捉并測量熒光X射線的能量和強度,分析軟件處理數(shù)據(jù)并提供元素含量信息。


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