作為一款集現(xiàn)代電子光學(xué)技術(shù)與精密分析功能于一體的高端科研設(shè)備，浪聲SuperSEM桌面式多功能實時能譜掃描電鏡專為材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物醫(yī)學(xué)及工業(yè)質(zhì)量控制等多個領(lǐng)域而設(shè)計。
SuperSEM搭載先進(jìn)的電子光學(xué)系統(tǒng)，集SEM與EDS技術(shù)于一身，憑借其卓越的分析性能、實時能譜偽彩成像技術(shù)以及用戶友好的操作體驗，可輕松實現(xiàn)樣品表面結(jié)構(gòu)與化學(xué)元素的深度分析。此外，還配備三軸樣品臺、光學(xué)導(dǎo)航等高端硬件，確保了儀器卓越的性能。
此外，其還配套了專業(yè)的數(shù)據(jù)分析軟件，軟件支持自動聚焦和快速掃描，以及結(jié)合了視頻模式下實時觀察樣品元素分布的功能，不僅簡化了操作流程，更確保了圖像采集與分析的精確性和高效性。適用于金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)等材料分析，是科研和工業(yè)檢測的得力助手。
SuperSEM賦予您前所未有的分析自由度，讓您能夠隨心所欲地"圈點江山"——無論是微觀世界中的點線面都能精準(zhǔn)鎖定。配合強(qiáng)大的可視化分析算法，即使是重疊的譜峰也能被輕松"拆解"，元素分布如同"熱力圖"般清晰呈現(xiàn)，為您的材料界面布局、元素均勻性、擴(kuò)散打開全新視野！
與傳統(tǒng)的掃描電鏡不同，本儀器將EDS作為一種探測器一起集成在電鏡上，獨家開發(fā)BSE視頻數(shù)據(jù)和EDS能譜數(shù)據(jù)同步處理的算法，可掃描獲取多種信號同時執(zhí)行元素分析，實時檢測形貌與各種元素含量信息。
搭載10M信號采集寬帶，猶如為微觀世界配備了一臺"4K超高清高速攝像機(jī)"，極速掃描，讓您在視頻模式下可實時捕捉樣品的每一幀精彩瞬間，無重影、拖影，每一個細(xì)節(jié)都它逃不過的"火眼金睛"！
告別漫長等待！本系統(tǒng)打破傳統(tǒng)束縛，讓定量分析結(jié)果如同"直播"般實時呈現(xiàn)。您可以在數(shù)據(jù)采集的同時，輕松調(diào)取歷史譜圖進(jìn)行即時對比，這種"邊采邊對比"的智能體驗，助力您的工作效率飛升！
| 版本 | SuperSEM N10 | SuperSEM N10eX | SuperSEM N10Plus | SuperSEM N10XL |
| 尺寸（W×L×H） | 292×570×515 mm | 292×570×515 mm | 292×570×515 mm | 292×570×515 mm |
| 重量 | 55KG | 56 KG | 57KG | 58KG |
| 加速電壓 | 5 kV、10 kV、15 kV | 5 kV、10 kV、15 kV | 5 kV、10 kV、15 kV 20 kV、25 kV、30 kV | 5 kV、10 kV、15 kV 20 kV、25 kV、30 kV |
| 三軸自動樣品臺 | X:25 mm Y:25 mm Z:30 mm | X:25 mm Y:25 mm Z:30 mm | X:25 mm Y:25 mm Z:30 mm | 大樣品室,系統(tǒng)可對最大 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析 |
| 最大樣品尺寸 | 90 mm（直徑） 40 mm（厚度） | 90 mm（直徑） 40 mm（厚度） | 90 mm（直徑） 40 mm（厚度） | / |
| 倍率 | ×10～×100,000（照片倍率） ×25～×250,000（顯示器倍率） | ×10～×100,000（照片倍率） ×25～×250,000（顯示器倍率） | ×10～×100,000（照片倍率） ×25～×250,000（顯示器倍率） | ×10～×100,000（照片倍率） ×25～×250,000（顯示器倍率） |
| 電子槍 | 預(yù)對中鎢燈絲電子槍 | 預(yù)對中鎢燈絲電子槍 | 預(yù)對中鎢燈絲電子槍 | 預(yù)對中鎢燈絲電子槍 |
| 檢測器 | 背散射電子：高感度4分割 背散射電子檢測器 | 背散射電子：高感度4分割 背散電子檢測器 二次電子：二次電子檢測器 EDS：實時能譜偽彩成像 | 背散射電子：高感度4分割 背散電子檢測器 二次電子：二次電子檢測器 EDS：實時能譜偽彩成像 | 背散射電子：高感度4分割 背散電子檢測器 二次電子：二次電子檢測器 EDS：實時能譜偽彩成像 |
| EDS參數(shù) | / | 探測器類型：硅漂移探測器 探測面積：30mm2 分辨率：130eV 元素分析范圍：B（硼）-Cf（锎） | 探測器類型：硅漂移探測器 探測面積：30mm2 分辨率：130eV 元素分析范圍：B（硼）-Cf（锎） | 探測器類型：硅漂移探測器 探測面積：30mm2 分辨率：130eV 元素分析范圍：B（硼）-Cf（锎） |
| 圖像信號 | 背散射電子 | 背散射電子 自研實時能譜探測器 二次電子 復(fù)合圖像（背散射電子+二次電子+實時能譜自動著色偽彩成像） | 背散射電子 自研實時能譜探測器 二次電子 復(fù)合圖像（背散射電子+二次電子+實時能譜自動著色偽彩成像） | 背散射電子 自研實時能譜探測器 二次電子 復(fù)合圖像（背散射電子+二次電子+實時能譜自動著色偽彩成像 |
| 真空模式 | 標(biāo)準(zhǔn) 荷電減輕 | 導(dǎo)電體（僅背散射電子） 標(biāo)準(zhǔn) 荷電減輕 | 導(dǎo)電體（僅背散射電子） 標(biāo)準(zhǔn) 荷電減輕 | 導(dǎo)電體（僅背散射電子） 標(biāo)準(zhǔn) 荷電減輕 |
