X射線衍射基本原理:當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí),由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有相同數(shù)量級(jí),故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度,與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。
在工業(yè)領(lǐng)域,不同設(shè)備使用的環(huán)境不同、接觸的介質(zhì)不同,使得設(shè)備腐蝕產(chǎn)生的原因千差萬(wàn)別,腐蝕會(huì)嚴(yán)重影響其使用壽命,更甚者會(huì)引起資源泄露和環(huán)境污染。
過(guò)去,維護(hù)團(tuán)隊(duì)需要將被腐蝕樣本送到遠(yuǎn)離現(xiàn)場(chǎng)的實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行分析,費(fèi)時(shí)費(fèi)力且成本較高。映SHINE便攜式X射線衍射儀(金屬腐蝕物版)可對(duì)設(shè)備金屬腐蝕物進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè),通過(guò)快速分析其晶體結(jié)構(gòu)來(lái)識(shí)別和定量腐蝕以及結(jié)垢物,幫助工程師了解腐蝕產(chǎn)物形成原因,降低時(shí)間成本,從而采取進(jìn)一步措施來(lái)阻止或減緩腐蝕的發(fā)生。
![]() 管道設(shè)備結(jié)垢和腐蝕物分析 |
精煉廠、金屬材料廠等 |
工業(yè)鍋爐、機(jī)械設(shè)備等 |
角度分辨率 | 0.2°@2θ FWHM |
2θ角度范圍 | 5-55° |
衍射幾何 | Debye-Scherrer 透射幾何 |
探測(cè)器 | 2000 X 256像素,2維3級(jí)Pelter制冷CCD |
X射線管靶材 | 集束微焦斑X射線管,Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根據(jù)檢測(cè)樣品選配) |
X射線管電壓 | 50kV最大,0-50kV可調(diào)節(jié) |
X射線管功率 | 40W最大,0-40W可調(diào)節(jié) |
XRF能量分辨率 | 127eV@8keV |
樣品顆粒大小 | 樣品顆粒<150um (100目篩) |
散熱方式 | 水冷 |
樣品量 | 約20mg |
工作溫度 | -10°C-35°C |
重量 | 15KG |
電源 | 鋰離子電池或電源適配器 |
尺寸 | 500mm×400mm×188mm(L×W×H) |
CrystalX分析軟件語(yǔ)言 | 中文、英語(yǔ)等多國(guó)語(yǔ)言 |