手持式/便攜式/臺(tái)式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀能夠?qū)腆w、粉末、液體等樣品進(jìn)行定性和定量分析，檢測(cè)范圍從Na-U，分析濃度從100％－亞ppm級(jí)。
具有高靈敏度、分析速度快、ppb級(jí)檢出限等特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于生態(tài)環(huán)境、食品安全、生物醫(yī)藥、材料科學(xué)、地球化學(xué)、科學(xué)研究等多個(gè)領(lǐng)域。
通過(guò)對(duì)粉末、單晶或多晶體等塊體材料等樣品進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息，是目前研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)最有力的方法。
測(cè)量鍍層厚度為什么如此重要？測(cè)量鍍層厚度可以幫您降低物料成本，響應(yīng)重要的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，并能維護(hù)您在行業(yè)中的聲譽(yù)。無(wú)論是在生產(chǎn)過(guò)程中的檢測(cè)還是對(duì)來(lái)料進(jìn)行檢驗(yàn)，都是如此。 浪聲鍍層分析儀系列致力于為您提供專業(yè)的涂鍍層分析解決方案，儀器具有手持式、便攜式、臺(tái)式等型號(hào)，可根據(jù)您的需求對(duì)光束尺寸、探測(cè)器、準(zhǔn)直器配置，以滿足您的鍍層要求，鍍層分析儀適用于定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。
在珠寶制造，黃金生產(chǎn)，首飾回收，貴金屬檢測(cè)機(jī)構(gòu)等領(lǐng)域中，精確的貴金屬分析對(duì)于確保產(chǎn)品質(zhì)量和提升經(jīng)濟(jì)效益至關(guān)重要。浪聲科學(xué)提供全面的貴金屬無(wú)損快速檢測(cè)解決方案，解決方案包括多種類型的精密分析儀器，如便攜式、手持式和臺(tái)式設(shè)備，以滿足不同場(chǎng)景的需求。
可對(duì)各種固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)物質(zhì)的分子組成、結(jié)構(gòu)及相對(duì)含量等進(jìn)行分析，實(shí)現(xiàn)對(duì)物質(zhì)的鑒別與定性，亦可與其他技術(shù)結(jié)合相互應(yīng)用，更高效地確定樣品的種類和結(jié)構(gòu)。
基于物聯(lián)網(wǎng)數(shù)據(jù)傳輸+大數(shù)據(jù)+信息化軟件,為客戶打造智能在線監(jiān)測(cè)解決方案，無(wú)需人員值守，輕松實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)連續(xù)檢測(cè)/監(jiān)測(cè)和遠(yuǎn)程監(jiān)控。
具有快速、原位分析的特點(diǎn)，適用于多種物質(zhì)狀態(tài)，包括固體、液體和氣體 ，如無(wú)需復(fù)雜樣品前處理、被廣泛應(yīng)用于金屬材料、礦石、材料科學(xué)、工業(yè)過(guò)程控制等領(lǐng)域 。
無(wú)論是材料缺陷分析、生物樣本形態(tài)觀察，還是納米尺度的精密測(cè)量，作為探索微觀世界的強(qiáng)大工具，SEM都能提供清晰的高分辨率圖像！相比于傳統(tǒng)的，新型SEM結(jié)合了EDS光學(xué)技術(shù)，既是科研探索的得力助手，也是工業(yè)應(yīng)用的優(yōu)選解決方案！
