工業(yè)硅簡介
工業(yè)硅又稱金屬硅，是由硅礦石（主要成分為二氧化硅）、木炭、煤及石油焦等碳質還原劑，經高溫還原反應后生成，其雜質主要有鐵、鋁、鈣及微量元素等。
工業(yè)硅分類
工業(yè)硅的牌號繁多，根據工業(yè)硅國家標準（GBT 2881-2014），工業(yè)硅按其中的鐵、鋁、鈣的含量差異，可分為Si5530、Si5210、Si4410、Si4210、Si4110、Si3303、Si2202、Si1101等不同的牌號（具體可查看表1）。牌號的后四位數(shù)字依次分別代表產品中主要雜質元素鐵、鋁、鈣的最高含量要求，比如Si4210中的“4”代表工業(yè)硅中的鐵含量小于0.4%，“2”代表鋁含量小于0.2%，“10”代表鈣含量小于0.10%。
工業(yè)硅行業(yè)結構
工業(yè)硅行業(yè)的上游為化工原料制造業(yè)，主要包括硅塊、熱電、還原劑、石油焦等，下游產品主要分為多晶硅、有機硅和鋁合金等，終端應用主要為電子器件、日化產品、光伏、半導體、汽車制造、房地產等領域。工業(yè)硅在我國經濟社會發(fā)展中具有特殊的地位，是新能源、新材料產業(yè)發(fā)展不可或缺的重要材料，展現(xiàn)了廣闊的應用前景。
XRF在工業(yè)硅成分分析中的應用
雜質元素的存在會影響工業(yè)硅的物理、化學性能及使用壽命。因此對工業(yè)硅中的成分進行分析至關重要。X射線熒光光譜法（XRF）被廣泛應用于工業(yè)硅成分分析中，用于測定工業(yè)硅中鐵、鋁、鈣、錳、鎳、鈦、銅、磷、鎂、鉻、釩等元素含量。適用于GB/T 14849.5-2014《工業(yè)硅化學分析方法 第5部分：雜質元素含量的測定 X射線熒光光譜法》。
應用案例
使用浪聲ScopeX 980CS臺式抽真空分析儀對客戶提供的其工業(yè)硅樣品進行測試，結果如下：
